장비 II: 장비 종류와 제조사

8장에서는 챔버 하나를 열어 샤워헤드와 히터, RF와 배기를 하나씩 보았다. 그런데 Fab의 증착 구역을 걸어 보면 생김새가 전혀 다른 장비들이 늘어서 있다. 웨이퍼를 100장 넘게 세워 넣는 키 큰 퍼니스가 있고, 가운데 로봇을 두고 챔버 여러 개를 붙인 장비가 있고, 웨이퍼 여러 장을 얹은 원판이 빙글빙글 도는 장비도 있다. 이 장에서는 이 장비들을 '막을 만드는 방식'과 '한 번에 몇 장을 어떻게 처리하는가'라는 두 축으로 정리하고, 공정마다 어떤 장비가 쓰이는지 지도로 찾아본다. 이어서 국내외 장비사가 공식 자료에서 무엇을 만든다고 말하는지 읽고, 배치와 단일 웨이퍼가 무엇을 맞바꾸는지 계산해 본 뒤, 같은 장비를 여러 대 쓸 때 생기는 챔버 매칭 문제로 마무리한다.

증착 장비를 나누는 두 축

장비 이름은 회사마다 제각각이어서 이름부터 외우면 금방 헷갈린다. 대신 두 가지 질문을 던지면 대부분의 장비가 제자리를 찾는다. 첫째, 막을 만드는 에너지와 원료를 어떻게 공급하는가. 둘째, 웨이퍼를 한 번에 몇 장, 어떤 모양으로 처리하는가. 두 질문은 서로 독립이다. 같은 ALD 질화막을 웨이퍼 한 장씩 처리하는 장비로도, 100장 넘게 한꺼번에 넣는 퍼니스로도 만든다. 여기에 공정 온도의 한계, 웨이퍼 크기(200 mm·300 mm), 절연막인지 금속인지가 보조 기준으로 붙는다.

첫째 축: 막을 만드는 방식

가장 오래된 갈래는 열만으로 원료를 분해하는 열 CVD(Thermal CVD)다. 그 가운데 LPCVD(Low-Pressure CVD, 저압 CVD)는 석영관을 통째로 데우는 핫월(Hot-wall) 퍼니스에서 0.25~2 Torr, 300~900 °C로 웨이퍼 약 100장을 기체 흐름에 수직으로 세워 놓고 증착한다. 압력이 아주 낮고 표면 반응이 속도를 정하는 조건이어야 웨이퍼를 촘촘히 쌓아도 두께가 고르다(±5%). 관 벽까지 함께 덮이기 때문에 퍼니스 한 대는 보통 한 가지 막 전용으로 쓴다. 압력을 수십~수백 Torr로 높인 SACVD(Sub-Atmospheric CVD)는 오존과 TEOS로 산화막을 만드는 방식으로, 300~500 °C·30~200 Torr에서 연구되었고 온도가 높을수록 깊은 트렌치의 단차 피복이 좋아졌다. 압력이 왜 균일도를 바꾸는지는 3장에서 다뤘다.

PECVD(Plasma-Enhanced CVD)는 플라즈마 속 전자로 원료를 쪼개 낮은 온도에서 막을 쌓는다. 평행판 전극을 5~10 cm 간격으로 두고 약 400 °C, 0.1~5 Torr에서 운전하는 것이 전형이고, LPCVD보다 온도가 낮으면서 대개 더 빠르다. 알루미늄 배선이 이미 깔린 웨이퍼는 450 °C 아래로만 데울 수 있으므로 플라즈마의 도움이 필요하다. 플라즈마 밀도를 크게 높인 HDP-CVD(High-Density Plasma CVD)는 플라즈마를 만드는 전원과 웨이퍼에 이온 에너지를 주는 바이어스 전원을 따로 두어, 증착하면서 동시에 스퍼터로 모서리를 깎아 좁은 틈을 메운다. 일부러 가열하지 않아도 이온 때문에 웨이퍼가 300~400 °C까지 올라 보통 냉각이 필요하다. 플라즈마의 원리는 4장, 틈 메우기는 5장에서 보았다.

FCVD(Flowable CVD)는 액체처럼 흐르는 막을 쌓아 좁은 틈을 아래부터 채운 뒤 굳히는 방식이다. Applied Materials는 Producer Eterna FCVD가 30:1까지의 틈을 보이드나 이음매 없이 채운다고 소개한다. ALD(Atomic Layer Deposition, 원자층 증착)는 원료 두 가지를 번갈아 넣어 표면에서 스스로 멈추는 반응을 되풀이하는 CVD의 한 갈래다. 사이클 한 번에 단층보다 얇게 자라므로(TMA/H₂O 산화알루미늄은 300 °C에서 사이클당 약 0.09 nm) 두께는 정밀하지만 느리다. 사이클의 한 단계에 플라즈마를 쓰는 PEALD(Plasma-Enhanced ALD)는 온도와 원료의 선택 폭을 넓히는 대신 컨포멀성이 떨어지거나 플라즈마 손상이 생길 수 있다. 질화막을 예로 들면 LPCVD는 700 °C 이상, PECVD는 400 °C 이하, 열 ALD는 보통 450 °C 초과, PEALD는 500 °C 미만에서 쓰인다. 단결정을 이어 키우는 에피 장비도 증착 장비의 한 갈래다. 주성엔지니어링의 Eureka가 에피 장비이고, ASM도 자사가 다루는 증착 시장에 에피를 넣는다. 이 장은 절연막 CVD와 ALD 장비를 중심으로 본다.

방식에너지·원료 공급자료 속 조건의 예많이 쓰는 곳의 예
LPCVD열, 낮은 압력, 연속 공급0.25–2 Torr, 300–900 °C, 퍼니스에 약 100장폴리실리콘, a-Si, 질화막
SACVD열, O₃/TEOS, 높은 압력300–500 °C, 30–200 TorrSTI·PMD 갭필
PECVD플라즈마(전자)약 400 °C, 0.1–5 Torr하드마스크, 3D NAND 적층막, 패시베이션
HDP-CVD고밀도 플라즈마 + 웨이퍼 바이어스이온 때문에 300–400 °C까지 가열STI·PMD·ILD·IMD 갭필
FCVD흐르는 막을 쌓은 뒤 굳힘30:1 틈(회사 설명)좁고 깊은 갭필
ALD·PEALD원료를 번갈아, 스스로 멈추는 반응사이클당 약 0.1 nm 이하스페이서, 라이너, High-k

둘째 축: 한 번에 몇 장을, 어떻게

웨이퍼를 한 장씩 처리하는 방식을 단일 웨이퍼 방식(Single-wafer, 현장에서는 매엽식이라고도 부른다)이라 한다. 단일 웨이퍼 장비는 대개 클러스터 툴(Cluster tool)로 만든다. 공정 모듈 여러 개와 웨이퍼를 옮기는 로봇을 닫힌 하나의 장비로 묶은 것으로, 지금 대부분의 웨이퍼 공정이 이런 장비에서 이루어진다. ASM의 XP4 플랫폼에는 Pulsar ALD 모듈을 4개까지 붙이고, 유진테크의 BlueJay는 열 LPCVD를 다중 챔버 단일 웨이퍼 플랫폼으로 만든 장비로 소개된다.

한 챔버나 한 모듈 안에서 웨이퍼 여러 장을 각자의 받침대에 올려 함께 처리하는 방식도 있다. 이 장에서는 트윈·다중 스테이션(Twin / Multi-station) 방식이라 부르겠다. Applied Materials의 Producer는 Twin Chamber 구조로 한 번에 최대 6장을 처리하고, Lam Research의 VECTOR는 받침대 네 개짜리 쿼드 스테이션 모듈(QSM)을 쓰며, Lam은 Striker를 '다중 스테이션 구조의 단일 웨이퍼 ALD'라고 설명한다. ASM의 XP8은 두 챔버를 묶은 DCM(Dual Chamber Module) 네 개로 챔버 8개를, 네 챔버를 묶은 QCM 네 개로는 챔버 16개까지 구성한다. 웨이퍼 하나하나는 자기 자리에서 처리되지만 모듈 안의 무언가를 함께 쓴다는 점이 중요하다. ASM은 XP8 DCM PECVD에서 기체 유량·압력·벽 온도는 두 챔버가 함께 쓰고, RF 전력·서셉터와 샤워헤드 온도·액체 원료 유량은 챔버마다 따로 정한다고 적는다. 이 구분은 7절의 챔버 매칭에서 다시 나온다.

배치(Batch) 방식은 석영 보트(Boat)에 웨이퍼를 수십~수백 장 꽂아 종형(세로) 퍼니스에 한꺼번에 넣는다. Kokusai Electric은 단일 웨이퍼를 '한 번에 한 장', 배치를 '한 번에 수십 장을 증착해 더 생산적인 방식'이라고 설명한다. 회사들이 밝힌 최대 장수는 TEL의 TELINDY PLUS 125장과 EVAROS 200장, ASM의 SONORA 150장, 원익IPS의 WIDAS 175장, 유진테크의 Harrier-L 150장이다. 장수를 줄인 미니 배치(Mini batch)도 있다. TEL은 최대 50장의 TELFORMULA를 짧은 TAT(Turnaround Time, 맡긴 일이 끝나 돌아오기까지 걸리는 시간)용으로 소개하고, Kokusai의 TSURUGI 계열과 유진테크의 Harrier-M도 미니 배치 장비로 소개된다.

마지막은 공간 분할 ALD(Spatial ALD)다. 보통의 ALD는 원료 A → 퍼지 → 원료 B → 퍼지를 시간 순서로 되풀이한다. 공간 분할 ALD는 원료 A와 B가 흐르는 영역을 공간으로 나누고 웨이퍼를 그 사이로 옮겨, 퍼지 단계 없이 사이클을 돌린다. ALD의 큰 약점인 낮은 증착 속도를 넘으려는 방법이다. TEL의 NT333은 반응 영역으로 나눈 챔버에서 웨이퍼 받침이 한 바퀴 돌면 ALD 한 사이클이 되고, 챔버 하나에 6장을 싣는다. Applied의 Olympia ALD, 원익IPS의 HYETA(6장, 240 RPM), 주성엔지니어링의 SDP System(한 챔버에 5~6장)도 웨이퍼 여러 장을 싣고 공간을 나누는 장비로 소개된다.

입구 ① 단일 웨이퍼 로봇이 모듈마다 한 장씩 같은 압력 ② 트윈·다중 스테이션 한 모듈, 받침대 여러 개 A B 퍼지 퍼지 ③ 공간 분할 회전 한 바퀴 = ALD 한 사이클 ④ 미니 배치 짧은 보트, 짧은 사이클 히터 ⑤ 대형 배치 긴 보트에 100장 넘게 석영관 웨이퍼를 보트에 층층이 꽂는다
그림 1. 웨이퍼를 다루는 다섯 가지 방식. ① 클러스터 툴은 로봇이 모듈마다 웨이퍼를 한 장씩 넣는다. ② 트윈·다중 스테이션은 한 모듈 안 받침대 여러 개에서 함께 처리하고 압력 같은 조건을 나눠 쓴다. ③ 공간 분할 ALD는 원판이 돌며 웨이퍼가 원료 A·B 영역과 퍼지 영역을 차례로 지난다. ④·⑤ 배치 퍼니스는 보트에 웨이퍼를 층층이 꽂아 석영관에 넣는다. 위에서 내려다본 ①~③과 옆에서 본 ④·⑤를 함께 그린 개념도이며 크기와 장수는 실제와 다르다.

공정에서 장비로: 지도 읽기

두 축을 가로세로로 놓으면 장비 지도가 된다. 아래 지도는 해외 5곳, 국내 3곳 장비사의 공식 제품 페이지(2026년 10월 9일 열람)에서 CVD·ALD 플랫폼 40개를 골라, 페이지에 적힌 방식대로 칸에 넣은 것이다. 한 플랫폼이 LPCVD와 ALD를 함께 하면 두 칸에 모두 들어간다. 한 번에 몇 장을 처리하는지 페이지에 적혀 있지 않은 제품은 추측하지 않고 맨 아래 '페이지에 적혀 있지 않음' 줄에 두었다. 공정을 고르면 그 공정을 응용으로 적은 플랫폼이 있는 칸이 켜지고, 칸을 누르면 그 칸의 제품 목록이 나온다.

EXPLORE

공정 → 장비 방식 → 대표 플랫폼 지도

고른 공정의 플랫폼이 있는 칸해외 회사 제품국내 회사 제품
공정·막 (누르면 해당 칸이 켜진다)
회사
켜진 플랫폼—
켜진 칸—
회사 수—
해볼 것: ① 'ALD SiO₂·SiN'을 고르자. 거의 모든 줄이 켜진다. 같은 막을 처리 방식만 달리해 만든다는 뜻이다. ② '갭필'을 고르면 열 CVD, HDP-CVD, FCVD, ALD의 네 열에 걸쳐 칸이 켜진다. ③ 회사를 '국내 3곳'으로 바꿔 국내 회사가 차지한 칸을 보자. ④ 아무 칸이나 눌러 제품 목록과 근거 번호를 확인하고, 다시 누르면 선택이 풀린다. (지도는 회사 페이지의 표현을 옮긴 것이다. 페이지가 응용으로 적지 않은 공정에는 표시하지 않았으므로, 켜지지 않았다고 그 장비가 그 공정을 못 한다는 뜻은 아니다. Producer 계열의 막별 제품은 Producer 플랫폼의 Twin Chamber로, Kokusai의 TSURUGI 계열은 카드에 CVD·ALD 구분이 없어 열 CVD 칸에 두었다.)

근거: Applied Materials, Lam Research, Tokyo Electron, ASM, Kokusai Electric, 원익IPS, 주성엔지니어링, 유진테크. 지도 속 목록의 번호는 이 장 끝 참고문헌 번호와 같다.

지도를 몇 번 눌러 보면 패턴이 보인다. 첫째, PECVD 플랫폼은 대부분 트윈·다중 스테이션 줄에 모여 있다. 둘째, 미니 배치와 대형 배치 줄에는 열 CVD와 ALD만 있고 PECVD, HDP-CVD, FCVD는 없다. 셋째, 'ALD SiO₂·SiN'을 고르면 단일 웨이퍼부터 공간 분할까지 거의 모든 줄이 켜진다. 같은 막을 놓고 처리량을 얻는 방법만 달리한 셈이고, 5절에서 그 이유를 계산한다. 넷째, 갭필은 열 CVD, HDP-CVD, FCVD, ALD 네 열에 흩어져 있다. 틈의 모양과 세대, 막에 바라는 성질이 다르기 때문이다(5장). 다섯째, 국내 회사의 제품 가운데 여럿이 '페이지에 적혀 있지 않음' 줄에 있다. 공식 페이지가 공정과 응용은 자세히 적으면서 한 번에 몇 장을 처리하는지는 밝히지 않은 경우다. 이럴 때 이름이나 사진만 보고 방식을 짐작하지 않는 것이 좋다.

해외 장비사: 무엇을 만든다고 말하나

CVD·ALD 장비를 만드는 큰 회사들은 미국, 일본, 네덜란드에 있다. 아래에서는 회사 이름의 알파벳 순서로, 각 회사가 연차 보고서와 제품 페이지에서 스스로 무엇을 만든다고 말하는지만 옮긴다. 순서는 순위가 아니다. 시장 점유율은 회사가 공식 문서에 밝힌 것만 적고, 제3자 사이트에 떠도는 숫자는 쓰지 않는다. 제품 이름은 회사 페이지에 적힌 그대로다.

Applied Materials (미국)

Applied Materials의 회계연도 2025 연차 보고서(10-K)는 회사를 거의 모든 반도체 제조에 쓰이는 재료 공학 솔루션의 선두라고 소개하고, 증착 장비를 식각·RTP·CMP·계측·패키징·이온 주입 장비와 함께 Semiconductor Systems 부문으로 묶는다. 부품·업그레이드·서비스와 200 mm 장비는 AGS 부문이 맡는다. 읽은 범위에서 증착만 따로 뗀 매출은 밝히지 않았다. CVD의 중심은 1998년에 나온 Producer 플랫폼이다. Twin Chamber로 한 번에 최대 6장을 처리하고, 세라믹 히터와 원격 플라즈마 세정을 쓴다고 회사는 설명한다. 같은 플랫폼 위에 막마다 이름이 다른 제품이 올라간다. 오존/TEOS 열 CVD 갭필인 HARP, 흐르는 갭필 막인 Eterna FCVD, Low-k인 Black Diamond, 비정질 탄소 하드마스크인 Precision APF, 3D NAND 적층막에 맞춰 Twin Chamber를 다시 설계했다는 XP Precision, 200 °C 아래에서 HBM의 TSV 공정을 맡는 Avila 2가 그 예다. Centura 계열에는 HDP-CVD인 Ultima HDP CVD와 150/200 mm 단일 웨이퍼·다중 챔버 장비 DXZ가 있다. ALD에서는 웨이퍼가 분리된 화학 영역을 돌아 지나가는 Olympia ALD와, 마이크로파 플라즈마를 쓰는 다중 받침대 공간 분할 장비 Centris Spectral SiN ALD를 내세운다.

ASM International (네덜란드)

ASM의 2025 연차 보고서는 증착이 웨이퍼 공정 장비(WFE, Wafer Fab Equipment) 시장의 약 24%이고, 회사가 그 안에서 ALD, 에피, PECVD, 종형 퍼니스, SiC 에피를 다룬다고 적는다. 단일 웨이퍼 ALD 시장은 2024년 약 30억 달러에서 2030년 51억~61억 달러로 커질 것으로 보았다(2025년 9월 Investor Day 발표). 회사는 이 시장에서 55% 넘는 점유율로 선두라고 하면서, 그 숫자가 ASM 자체 추정임을 밝힌다. PECVD와 종형 퍼니스에서는 큰 시장 안의 틈새에 집중한다고 쓴다. ALD 제품 페이지에서도 스스로를 가장 넓은 ALD 제품군을 가진 선도 공급사로 소개한다. 단일 웨이퍼 ALD로는 교차 흐름(Cross-flow) 반응기와 고체 원료 공급 장치를 쓰는 High-k용 XP4 Pulsar, 샤워헤드형으로 직접·원격 플라즈마를 고를 수 있는 XP4 EmerALD, DCM 구조의 열 ALD인 XP8 Synergis와 저온 스페이서용 XP8 DCM PEALD가 있다. PECVD는 XP8 DCM PECVD, 퍼니스는 최대 150장의 SONORA다.

Kokusai Electric (일본)

Kokusai Electric은 배치 증착을 주력 사업으로 내세운다. 회사는 ALD가 기체를 여러 번 번갈아 넣어야 해서 시간이 오래 걸린다는 약점을 배치 ALD로 풀었다고 설명하고, 배치 증착과 단일 웨이퍼 막질 처리 장비가 '세계에서 가장 높은 점유율에 속한다'고 적지만 숫자는 밝히지 않는다. 제품 목록에는 300 mm 미니 배치 증착 장비인 TSURUGI 계열과, 이전 모델보다 한 번에 처리하는 로트가 1.75배인 AdvancedAce-II, 1.25배인 QUIXACE-II 같은 대형 배치 장비가 있다. MARORA와 TANDUO는 증착이 아니라 단일 웨이퍼 막질 처리 장비로 분류된다. 인터넷에는 이 회사의 배치 ALD 점유율이라며 구체적인 백분율이 돌아다니지만, 회사 공식 문서에서 확인한 숫자가 아니어서 이 장에서는 쓰지 않는다.

Lam Research (미국)

Lam Research의 회계연도 2026 연차 보고서(10-K)는 PECVD, HDP-CVD, ALD가 칩의 핵심 절연층을 만든다고 설명하고, 증착 제품으로 텅스텐·몰리브덴 CVD/ALD의 ALTUS, 절연막 PECVD/ALD의 VECTOR와 Striker, 구리 전기 도금의 SABRE를 든다. 경쟁에 대해서는 절연막·금속 증착 시장의 주 경쟁사가 Applied Materials이고, ALD와 PECVD에서는 ASM International, Wonik IPS와도 경쟁한다고 적는다. VECTOR는 쿼드 스테이션 모듈로 하드마스크, 3D NAND 다층막, 패시베이션, 응력 관리층을 만들고, Striker는 갭필 절연막·라이너·패터닝 스페이서를, ALTUS는 다중 스테이션 순차 증착으로 ALD 핵 생성과 CVD 채움을 한 장비에서 한다고 소개된다. HDP-CVD인 SPEED 제품군은 웹사이트에 있지만 10-K의 제품표에는 들어 있지 않다. 10-K는 고객 지원 부문이 부품·업그레이드·서비스와 함께, 최첨단이 아닌 신품·재생 장비인 Reliant 제품군을 판다고도 적는다.

Tokyo Electron (일본)

TEL의 제품 목록은 증착을 열 증착(Oxide/Anneal), CVD, ASFD(Advanced Sequential Flow Deposition), ALD, PVD로 나누고, TELINDY PLUS, EVAROS, NT333과 금속용 Triase+, Episode 등을 올려 둔다. 배치 퍼니스인 TELINDY 시리즈 페이지는 머리말에 300 mm 배치 퍼니스를 10,000대 넘게 출하했다고 적는다. 등온 대형 배치 TELINDY PLUS(최대 125장)는 LPCVD와 열 ALD를, 같은 크기의 TELINDY PLUS IRad는 아주 낮은 온도의 플라즈마 ALD SiN·SiO₂를, EVAROS(최대 200장)는 ALD SiO₂·SiN과 폴리실리콘을, 미니 배치 TELFORMULA(최대 50장)는 짧은 TAT를 맡는다고 소개된다. NT333은 TEL의 첫 세미 배치 ALD 챔버로, 앞에서 본 공간 분할 방식이다. 이 장에서는 TEL의 연차 보고서를 읽지 않았으므로 TEL의 증착 시장 지위에 대한 숫자는 적지 않는다.

시장 지위를 말하는 문장을 읽는 법

이 절의 문장은 세 종류로 나뉜다. ① 공식 문서에 회사가 적은 사실. Lam이 10-K에서 경쟁사로 Applied Materials, ASM International, Wonik IPS를 든 것이 그 예다. ② 회사가 숫자와 함께 밝힌 자체 추정과 전망. ASM의 '단일 웨이퍼 ALD 점유율 55% 이상'과 2030년 시장 전망이 여기에 든다. 추정이라는 꼬리표와 시장의 범위(ALD 전체가 아니라 단일 웨이퍼 ALD)를 함께 읽어야 한다. ③ 숫자 없는 주장. Kokusai의 '가장 높은 점유율에 속한다'가 그렇다. 그 밖의 숫자를 인용하고 싶다면 원 출처(조사 기관, 연도, 시장을 어떻게 정의했는지)부터 찾자. 같은 회사라도 '증착 전체', 'ALD 전체', '단일 웨이퍼 ALD' 가운데 어디를 기준으로 하느냐에 따라 지위가 다르게 적힐 수 있다.

국내 장비사: 원익IPS·주성엔지니어링·유진테크

국내 회사도 장비 지도에서 여러 칸을 차지한다. 이 장에서는 세 회사의 공식 제품 페이지만 읽었다. 사업보고서는 읽지 않았으므로 시장 점유율이나 고객에 대한 이야기는 적지 않는다. 공식 문서로 확인한 시장 구조 언급은 하나다. 앞에서 본 Lam의 10-K가 ALD와 PECVD의 경쟁사로 Wonik IPS를 이름으로 든다. 아래 표의 수치는 모두 회사 설명이다.

제품방식 (페이지의 표현)회사가 든 공정·응용페이지의 수치
원익IPS
GEMINI CVD플라즈마 CVD (SiON, a-Si, TEOS)반사 방지막, 하드마스크 절연막두께 균일도 TEOS/SiON 0.5% 미만
QUANTAHT-TEOS, HT-SiN, HT-PEOX3D 적층막(In-situ stack), TSV 패시베이션수치 없음
GEMINI ALDALD 산화막SADP/QP 스페이서, 하드마스크, 라이너, 갭필ALD 산화막 균일도 0.2% 미만
GEMINI ALD (Kairos PE-ALD)PEALD (산화막, SiN, 3원계 산화막)스페이서, 하드마스크, 라이너, 갭필수치 없음
HYETA공간 분할 ALD, 6장 미니 배치DRAM 커패시터 ZrO₂·AlO, SiO₂ 갭필240 RPM, 300–700 °C, 홀 130:1 보이드 없는 갭필
NOA ALD · NOA CVD금속 ALD·CVD, 공정 모듈 6–10개Ti/TiN, W, 이음매 없는 W 갭필수치 없음
WIDAS배치 열처리·ALDPoly, ALD 산화막·SiN, 산화·어닐배치당 최대 175장, 단차 피복 95% 초과
주성엔지니어링
SDP System공간 분할 플라즈마 (ALD & CVD)생산성과 손상 없는 플라즈마를 내세움한 챔버에서 5–6장 동시
Guidance SeriesALG & ALD & CVD시공간 분할 조정으로 단차 피복 비율과 막 응력 조절수치 없음
Eureka에피증착 속도를 높인 에피 장비수치 없음
유진테크
BlueJay™ · BlueJay-e™다중 챔버 단일 웨이퍼 열 LPCVDa-Si 하드마스크·라이너, 폴리실리콘, SiGe(B), 질화막800 °C까지
Harrier-L™대형 배치 열·플라즈마 ALD, LPCVD스페이서, 라이너, 패시베이션, 캡핑 등배치당 최대 150장, 7+1 영역 히터
Harrier-M™미니 배치 ALDTiN, SiOCN 스페이서, SiO·SiN, ONO400–850 °C, 5+1 영역 히터

공식 페이지는 모두 2026년 10월 9일에 열람했다. 주성엔지니어링은 제품별 상세 페이지 없이 사업영역 페이지에 세 제품을 짧게 소개한다. 유진테크의 일부 페이지는 머리 제목과 본문의 제품 이름이 서로 달라 본문을 따랐다.

표에서 두 가지를 읽을 수 있다. 첫째, 한 회사가 한 방식만 하지 않는다. 원익IPS는 배치(WIDAS)와 공간 분할(HYETA)을 함께 내놓고, 유진테크는 단일 웨이퍼 LPCVD(BlueJay)와 배치 ALD(Harrier)를 함께 내놓는다. 유진테크는 BlueJay가 기존 배치 퍼니스보다 열 예산이 낮다고 설명하는데, 전통적으로 퍼니스에서 하던 열 LPCVD를 단일 웨이퍼로 하는 선택지를 내세운 것이다. 둘째, 회사 수치에는 조건이 붙어 있다. '0.5% 미만'은 TEOS·SiON 막의 두께 균일도이고, '130:1'은 홀 패턴에서의 갭필이다. 균일도를 어떤 식으로 계산했는지는 페이지에 없으므로, 다른 회사가 내세운 숫자와 그대로 비교할 수 없다.

배치와 단일 웨이퍼: 무엇을 맞바꾸나

같은 막을 배치로도 단일 웨이퍼로도 만들 수 있다면 무엇을 보고 고를까? Saraswat의 강의 노트는 양쪽 사정을 함께 적는다. 핫월 LPCVD는 증착 속도가 낮지만 웨이퍼를 많이 넣어 그것을 보상하고, 웨이퍼가 커지면서 배치 안의 균일도를 지키기 어려워져 단일 웨이퍼로 옮겨 가는 흐름이 있다. Kokusai는 반대 방향에서 배치를 설명한다. 한 번에 수십 장을 처리하니 더 생산적이고, 느린 ALD일수록 그 이점이 크다는 것이다.

배치의 크기를 정하는 일도 맞바꿈이다. ASM은 2014년 연차 보고서(20-F)에서 300 mm 퍼니스 A412가 '가장 짧은 사이클 타임을 위해서는 25장부터, 가장 낮은 비용을 위해서는 150장까지' 한 번에 실을 수 있다고 적었다. 여기서 사이클 타임(Cycle time)은 웨이퍼를 싣기 시작해 공정을 마치고 내릴 때까지 한 번 도는 데 걸리는 시간이고, 처리량(Throughput, 시간당 장수 wph)은 장비가 한 시간에 끝내는 웨이퍼 수다. A412와 그 후속인 SONORA는 반응기 두 개와 보트 두 개를 쓰는 구성이고, TEL도 TELINDY PLUS에 듀얼 보트를 선택 사양으로 둔다. 왜 그럴까? 한 번 도는 시간을 간단한 학습용 모델로 나눠 보자.

$$T_{\text{한 번}} = T_{\text{고정}} + T_{\text{증착}} + N\,t_{\text{반송}}, \qquad \text{처리량} = \frac{N}{T_{\text{한 번}}}$$
\(N\): 배치 장수, \(T_{\text{고정}}\): 장수와 거의 상관없이 드는 시간(승온·안정화·냉각·퍼지·배기), \(T_{\text{증착}}\): 막을 쌓는 시간, \(t_{\text{반송}}\): 웨이퍼 한 장을 보트에 싣고 내리는 시간. 이 장에서 쓰는 학습용 모델이며, 실제 장비의 시간 구성은 이보다 복잡하다.

고정 시간은 장수로 나눠지므로 배치가 클수록 웨이퍼 한 장이 차지하는 장비 시간이 줄어든다. 장비 값과 운영비가 시간에 비례한다고 보면 이것이 곧 웨이퍼당 비용이다. 대신 싣고 내리는 시간은 장수에 비례해 늘어 한 번 도는 시간이 길어진다. 듀얼 보트는 한 보트가 공정을 도는 동안 다른 보트를 싣고 내려, 이 반송 시간을 공정 시간 뒤에 숨긴다(모델에서 나온 해석). 아래에서 직접 확인해 보자.

SIMULATOR

배치 크기의 맞바꿈: 처리량과 사이클 타임

처리량한 번 도는 시간다른 보트 구성(비교)A412가 적은 범위 25–150장
한 번 도는 시간—
처리량—
장당 장비 시간—
25장 대비 (처리량 · 시간)—
해볼 것: ① N을 25에서 150으로 올려 보자. 처리량은 늘지만 6배보다 덜 늘고, 한 번 도는 시간은 길어진다. A412가 25장을 '가장 짧은 사이클 타임', 150장을 '가장 낮은 비용'으로 적은 이유다. ② 증착 시간을 0.25시간으로 줄이고 N을 200까지 밀어 보자. 싣고 내리는 시간이 한 번 도는 시간의 큰 몫이 된다. ③ 듀얼 보트를 켜면 같은 N에서 처리량이 오른다. 그 상태로 증착 시간을 0.25시간으로 줄이고 N을 175장 넘게 올리면 반송이 공정보다 길어져 곡선이 꺾인다. 듀얼 보트로도 반송을 다 숨기지 못하는 구간이다. (모델의 가정: 고정 시간 1.5시간, 웨이퍼 한 장을 싣고 내리는 데 0.6분, 듀얼 보트의 보트 교환 5분. 모두 학습용 값이며 특정 장비의 값이 아니다. 장수가 늘어 열용량이 커지는 효과와 웨이퍼 위치에 따른 두께 차이는 넣지 않았다.)

근거: 25장·150장의 맞바꿈과 듀얼 보트 구성, 현재 제품의 최대 장수. 시간 값은 모두 학습용 가정이다.

ALD는 왜 장비 방식이 셋으로 갈릴까

ALD에서는 이 맞바꿈이 더 뚜렷하다. 막 두께가 사이클 수로 정해지므로 두께에 비례해 시간이 든다. 사이클당 성장이 약 0.09 nm(TMA/H₂O, 300 °C), 아미노실란 계열 SiN이 보통 사이클당 1 Å 미만이라면 10 nm 막에도 사이클이 100번 넘게 든다(계산). 회사들은 이 느림을 세 가지 길로 푼다. 배치 ALD는 고정 시간과 긴 사이클을 많은 웨이퍼에 나눈다. 공간 분할 ALD는 퍼지 단계를 공간 분리로 바꿔 사이클 자체를 짧게 만든다. Applied는 Olympia가 화학 단계마다의 펌프·퍼지를 없애 시간 분할 ALD보다 생산성이 50% 넘게 높다고 내세운다(회사 설명). 단일 웨이퍼 ALD는 반응기 부피를 줄여 사이클을 짧게 하고 챔버를 여러 개 붙인다. ASM은 EmerALD의 작은 샤워헤드와 챔버 부피가 ALD 사이클을 줄이기 위한 것이라고 설명하고, XP8에는 챔버를 16개까지 붙인다. 단일 웨이퍼와 배치의 처리량을 식으로 쓰면 다음과 같다.

$$\text{처리량}_{\text{단일}} = \frac{k}{t_{\text{고정}} + n\,t_{\text{사이클}}}, \qquad \text{처리량}_{\text{배치}} = \frac{N}{T_{\text{고정}} + n\,T_{\text{사이클}}}, \qquad n = \frac{\text{두께}}{\text{사이클당 성장}}$$
\(k\): 단일 웨이퍼 챔버 수, \(N\): 배치 장수, 소문자 \(t\)는 웨이퍼 한 장마다, 대문자 \(T\)는 배치 한 번마다 드는 시간. 배치는 반응기가 커서 퍼지가 길므로 \(T_{\text{사이클}} \gg t_{\text{사이클}}\)이라고 가정했다(학습용 가정).
PREDICT

ALD 막을 4배 두껍게 하면?

ALD SiN 막을 5 nm에서 20 nm로 4배 두껍게 바꾼다. 아래 가정에서 챔버 4개짜리 단일 웨이퍼 ALD 장비와 100장 배치 ALD 장비의 시간당 처리량은 어떻게 바뀔까?
가정: 사이클당 0.1 nm. 단일 웨이퍼는 웨이퍼마다 고정 60초 + 사이클당 4초. 배치는 한 번마다 고정 3시간 + 사이클당 40초.
답을 고르면 두께에 따른 처리량 곡선이 함께 그려진다.
단일 웨이퍼 (챔버 4개)—
배치 (100장)—
공간 분할 (12장)—
배치 한 번 도는 시간—
해볼 것: ① 답을 고른 뒤 두께를 1 nm까지 내려 보자. 얇은 막에서는 고정 시간이 작은 단일 웨이퍼가 훨씬 빠르다. ② 두께를 올리며 두 곡선이 만나는 두께를 찾아보자. 그 위에서는 배치가 앞선다. ③ 50 nm까지 밀면 배치도 한 번 도는 데 8시간이 넘게 걸린다. 처리량이 앞서도 TAT는 길다. ④ 공간 분할을 켜 보자. 사이클 하나가 원판 한 바퀴라서 두께가 늘어도 덜 느려진다. (모델의 가정: 사이클당 0.1 nm, 모든 방식에서 같은 막질. 단일 웨이퍼 웨이퍼당 고정 60초·사이클 4초·챔버 4개, 배치 고정 3시간·사이클 40초·100장, 공간 분할 챔버당 6장·한 번 싣고 데우는 데 10분·분당 20바퀴. 모두 학습용 값이며 실제 장비의 값이 아니다.)

근거: 사이클당 성장의 크기, 배치 ALD와 공간 분할 ALD가 처리량을 얻는 방식, 공간 분할 장비의 장수. 시간 값은 모두 학습용 가정이다.

같은 ALD 막인데 왜 장비 방식이 셋으로 갈리나

이 절의 내용을 원인 → 결과 → 확인 방법의 순서로 이어 설명해 보자.

  1. 원인. ALD는 원료를 번갈아 넣고 퍼지하는 사이클을 되풀이하고, 사이클마다 단층보다 얇게(사이클당 약 0.1 nm 이하) 자란다. 그래서 두께에 비례해 시간이 들고 느리다.
  2. 결과. 처리량을 얻는 길이 셋으로 갈린다. 배치 ALD는 고정 시간을 많은 웨이퍼에 나누고(EVAROS 200장, SONORA 150장), 공간 분할 ALD는 퍼지를 공간 분리로 바꾸며(NT333, HYETA), 단일·다중 스테이션 ALD는 작은 반응기와 많은 챔버로 버틴다(EmerALD, XP8, Striker). 대가도 다르다. 배치는 한 번 도는 시간이 길어 작은 배치와 큰 배치 사이에서 사이클 타임과 비용을 맞바꾸고, 챔버가 많은 단일 웨이퍼 장비는 챔버끼리 결과를 맞추는 일이 따라온다(7절).
  3. 확인 방법. 막 두께에서 사이클 수를 구하고, 고정 시간과 사이클 시간으로 웨이퍼 한 장이 차지하는 장비 시간을 계산해 본다(위 식). 회사가 내세우는 처리량은 막 종류·두께와 비교 대상을 함께 확인한다. 양산 데이터로는 배치라면 웨이퍼 안·웨이퍼 사이·배치 사이의 균일도(WIDAS가 WiW, WtW, BtB로 내세우는 항목)를, 단일 웨이퍼라면 챔버별 관리도를 본다.
회사가 내세우는 처리량 숫자를 읽는 법

Applied는 Centura DXZ가 시간당 최대 80장을 처리한다고 적는데, 이것은 3,000 Å PE-TEOS와 플라즈마 실란 막의 경우이고, 2000 Å SACVD USG에서는 35장이다. 막과 두께가 바뀌면 같은 장비의 숫자가 두 배 넘게 달라진다. 'SONORA는 A412보다 생산성이 최대 30% 높다', 'AdvancedAce-II는 이전 모델보다 한 번에 1.75배의 로트', 'Olympia는 시간 분할 ALD보다 50% 넘게'는 모두 비교 대상이 다르다. 숫자를 볼 때는 ① 어떤 막, 어떤 두께인가 ② 무엇과 비교했는가 ③ 장비가 낼 수 있는 최대인가 실제 공정의 값인가를 함께 확인하자. 위 모델에서 막을 두껍게 하자 순위가 뒤집혔던 것처럼, 조건이 바뀌면 결론도 바뀐다.

장비를 고르는 순서

지금까지를 모아, 막 하나를 보고 장비 방식을 고를 때 던지는 질문을 순서대로 적어 보자. 실제 Fab은 이미 가진 장비와 라인 사정까지 함께 따지지만, 물리적으로 가능한지를 거르는 순서는 대략 다음과 같다(이 장의 정리).

  1. 온도 한계. 웨이퍼가 이미 견딜 수 있는 온도는 얼마인가. 알루미늄 배선 위라면 450 °C 아래여야 해서 플라즈마의 도움이 필요하다. HKMG를 만든 뒤의 게이트 스페이서는 TiN 같은 막의 산화와 도펀트 확산을 피하려고 낮은 온도가 필요하다. HBM의 TSV 공정용 Avila 2는 200 °C 아래의 PECVD로 소개된다.
  2. 구조. 덮어야 할 구조가 얼마나 깊고 좁은가. 고르게 덮어야 하면 ALD가, 틈을 메워야 하면 HDP·SACVD·FCVD·ALD 갭필이 후보다. 5장의 단차 피복 이야기다.
  3. 막질. 막에 바라는 성질은 무엇인가. 같은 질화막이라도 LPCVD는 식각에 강하고 컨포멀하지만 700 °C 이상이 필요하고, PECVD는 낮은 온도 대신 식각 저항과 단차 피복이 대개 못 미친다. 플라즈마 손상을 피하려면 HARP 같은 비플라즈마 방식이 후보가 되고, PEALD는 온도를 낮추는 대신 컨포멀성과 손상을 따져야 한다.
  4. 두께와 물량. 얼마나 두껍게, 얼마나 많이 만드는가. 5절의 계산처럼 얇은 막은 단일 웨이퍼가, 두꺼운 ALD 막은 배치나 공간 분할이 유리해질 수 있고, 개발 단계처럼 TAT가 중요하면 작은 배치가 낫다.
  5. 라인 사정. 마지막으로 그 Fab에 어떤 장비가 있는가. 핫월 퍼니스는 벽까지 덮이므로 보통 한 막 전용으로 쓰이니, 새 막을 넣으려면 장비 배정부터 따져야 한다(해석).

이 순서로 아래 문제를 풀어 보자. 문제의 공정은 모두 회사 자료나 논문에 나온 응용에서 골랐다.

CHALLENGE

이 막에는 어떤 장비 방식?

문제—
맞힌 수—
힌트를 본 문제—
결과진행 중
조건: 9문제 가운데 7개 이상 맞히면 통과다. 문제마다 한 번만 고를 수 있고, 고르기 전에 「힌트」를 눌러 실마리를 볼 수 있다(점수에는 영향이 없다). 「처음부터 다시」를 누르면 순서를 섞어 다시 시작한다. 답이 둘인 문제는 둘 다 정답으로 친다. 답을 고르면 지도에 정답 방식의 칸(초록)과 고른 칸(빨강)이 표시된다. 실제 장비 배정은 Fab의 장비 구성과 물량에 따라 달라진다.

문제의 근거: 3D NAND 적층, 하드마스크, 오존/TEOS 갭필, HDP 갭필, 게이트 스페이서, 퍼니스 LPCVD, DRAM 커패시터 High-k, HBM의 TSV 공정, 로직 High-k.

몇 문제는 답이 둘이다. 게이트 스페이서는 단일·다중 스테이션 PEALD로도, 배치 ALD로도 만든다. 회사 자료가 양쪽 모두를 스페이서 용도로 적고 있기 때문이다. 결국 장비 선택은 '할 수 있는가'를 거른 뒤 '이 두께와 이 물량에서 어느 쪽이 싸고 빠른가'를 따지는 문제가 된다.

같은 장비를 여러 대: 챔버 매칭과 서비스

장비를 고르고 나면 다음 문제가 기다린다. 양산 라인은 같은 막을 여러 챔버에서 만들고, 어느 챔버에서 처리된 웨이퍼든 같은 결과를 내야 한다. Infineon의 PECVD 질화막 연구에서 챔버 세 대의 평균 두께는 통계적으로 뚜렷하게 달랐고(분산 분석), 연구진은 챔버마다 모델을 따로 만들었으며 SPC도 챔버별로 한다고 적었다. 이렇게 챔버 사이의 차이를 줄여 같은 레시피가 같은 결과를 내게 만드는 일을 챔버 매칭(Chamber matching)이라 한다.

한 모듈 안의 스테이션끼리도 마찬가지다. Applied Materials의 특허에는 Producer 장비의 한 챔버 안 두 스테이션에서 PECVD USG를 10,000 Å 목표로 쌓은 예가 있다. 보정하지 않으면 평균이 173 Å 높았고, 제어를 켜자 약 15쌍 뒤에 두 스테이션이 20 Å 안으로 모였다. 장비 회사들도 매칭을 내세운다. ASM은 XP8 DCM에서 챔버마다 정하는 손잡이와 함께 쓰는 손잡이를 나눈 것을 챔버 사이 매칭과 연결해 설명하고, Synergis와 DCM PEALD에서도 챔버 매칭을 든다. 원익IPS는 GEMINI CVD와 GEMINI ALD에 'Excellent Tool Matching'을, 유진테크는 BlueJay에 장비 매칭의 쉬움을 내세우며, TEL은 EVAROS의 제어기를 장래 스마트 장비 매칭 기능을 넣을 수 있게 설계했다고 적는다. 모두 회사 설명이다.

매칭을 실제로 어떻게 하는지 공개한 자료는 많지 않다. 증착 장비는 아니지만, MIT의 한 석사 논문은 플라즈마 애싱 챔버를 대상으로 방법을 보였다. 챔버마다 실험 계획(DOE) 모델을 만들고, 센서를 단 계측 웨이퍼와 장비 센서로 차이의 원인을 찾고, 하드웨어·소프트웨어·교정을 표준화하라고 권하며, 시뮬레이션에서 EWMA(지수 가중 이동 평균) run-to-run 제어가 드리프트로 생기는 불일치를 줄인다는 것을 보였다. Run-to-Run 제어(R2R)는 방금 처리한 웨이퍼의 측정값으로 다음 웨이퍼의 레시피를 고치는 방식이다. 증착 속도를 EWMA로 추정해 다음 증착 시간을 정하면 다음과 같다.

$$\hat r_{k+1} = \lambda\,\frac{d_k}{t_k} + (1-\lambda)\,\hat r_k, \qquad t_{k+1} = \frac{d_{\text{목표}}}{\hat r_{k+1}}$$
\(d_k\): k번째 웨이퍼에서 잰 두께, \(t_k\): 그 웨이퍼의 증착 시간, \(\hat r\): 추정한 증착 속도, \(\lambda\): 0~1의 가중치. \(\lambda\)가 클수록 가장 최근 측정을 많이 믿는다.

아래 시뮬레이터에서 두 챔버 A, B를 이 방식으로 맞춰 보자. 두 챔버가 증착 시간을 함께 써야 하는 경우와 챔버마다 따로 보정할 수 있는 경우를 비교한다. ASM이 기체 유량과 압력은 두 챔버가 함께 쓰고 RF 전력과 온도는 챔버마다 정한다고 적은 것처럼, 장비 구조가 어떤 손잡이를 챔버별로 쓸 수 있는지를 정한다.

SIMULATOR

두 챔버의 두께 맞추기: 공유 손잡이와 챔버별 손잡이

챔버 A챔버 B규격 ±1.5%
보정 방식
평균 차이 B−A (마지막 30쌍)—
규격 밖 웨이퍼—
PM 뒤 10쌍의 규격 밖—
산포 σ (마지막 30쌍)—
해볼 것: ① '보정 없음'에서 시작하자. B는 처음부터 두껍고, 드리프트까지 겹쳐 점점 규격 밖으로 나간다. ② '공유 시간만 보정'으로 바꾸면 두 챔버의 평균은 목표에 오지만 A는 얇게, B는 두껍게 갈라진 채 남는다. 공유 손잡이로는 챔버 사이 차이를 없앨 수 없다. ③ '챔버별 보정'에서 λ를 1로 올리면 측정 잡음까지 따라가 산포가 커지고, 0.05로 내리면 PM 뒤의 계단을 따라잡는 데 오래 걸린다. 그 사이의 값을 찾아보자. (모델의 가정: 목표 1,000 nm, 기준 속도에서 챔버 A는 +1.0%, B는 +2.8% 빠름, 웨이퍼마다 A +0.015%, B +0.02%씩 빨라지는 드리프트, PM 뒤 드리프트가 0으로 돌아가고 기준 대비 속도 차이가 A −1.0%, B +0.3%로 계단처럼 바뀜, 측정 잡음 1σ 0.4%, 모든 웨이퍼를 측정. 모두 학습용 값이며 실제 장비의 값이 아니다.)

근거: 챔버마다 평균 두께가 다르고 챔버별로 SPC를 한다, 두 스테이션 매칭 예(목표 10,000 Å), EWMA run-to-run 제어로 드리프트에 의한 불일치를 줄이는 방법, 정비 뒤의 계단 변화, 챔버별 손잡이와 공유 손잡이.

정비를 마친 챔버는 어제의 챔버가 아니다

Infineon의 가상 계측 연구에서, 1년에 한 번 하는 정비(챔버 습식 세정) 뒤 두께 예측 오차가 크게 뛰었다. '마지막 습식 세정 뒤 처리한 웨이퍼 수'라는 변수가 학습 범위를 벗어났기 때문이고, 선형 모델들은 이 구간에서 실패했다. Applied Materials의 FDC 특허도 정비 뒤에는 챔버 조건이 갑자기 바뀌므로 모델을 다시 설정해야 하고, 결함이 없어도 공정은 서서히 움직인다고 적는다. 막은 두께만이 아니라 응력과 굴절률도 목표로 관리한다. 그래서 정비가 끝난 챔버는 두께·균일도·굴절률·응력을 다시 확인하고, 챔버별 관리도와 R2R 제어기의 기준을 정비 시점에서 끊어 보는 것이 자연스럽다(해석). 위 시뮬레이터에서 PM을 켜고 λ를 0.05로 두면, 이 계단이 얼마나 오래 규격 밖 웨이퍼를 만드는지 볼 수 있다. 챔버 세정과 시즈닝은 8장, 드리프트의 원인 찾기는 11장에서 다룬다.

장비 회사는 장비만 팔지 않는다

장비가 Fab에 들어간 뒤에도 장비 회사와의 관계는 이어진다. Applied는 부품·업그레이드·서비스를 별도 부문(AGS)으로 운영하고, Lam의 고객 지원 부문은 부품, 업그레이드, 설치 장비의 성능 관리 서비스와 재생 장비(Reliant)를 판다. ASM은 여러 부품의 수리·교체·조립·시험을 한 번의 서비스로 묶는 완전 키트 관리(CKM)를 소개하고, 부품 세정은 오늘날 습식 식각이 표준이지만 자사의 건식 세정 기술로 닳은 반응기 부품(예: 티타늄 공정 키트)을 되살린다고 적는다. Kokusai는 정비·수리·부품 판매·이전·개조·중고 장비와 함께 고객사 정비 인력을 위한 교육 센터를 운영하고, 장비 데이터를 모아 상태를 보는 health check 기능을 선택 사양으로 둔다. 그래서 공정 결과가 흔들릴 때 '최근에 어떤 부품이나 키트가 바뀌었는가'를 정비 기록과 함께 확인하는 것이 첫 질문 가운데 하나가 된다(해석).

다음 장에서는 이렇게 만든 막의 두께, 굴절률, 응력, 조성을 어떻게 재는지 본다. 이 장의 시뮬레이터가 당연하게 가정한 '모든 웨이퍼의 두께를 잰다'는 일이 실제로는 무엇을 뜻하는지도 거기서 다시 볼 것이다.

핵심 정리

  1. 증착 장비는 막을 만드는 방식(열 CVD, PECVD, HDP-CVD, FCVD, ALD·PEALD)과 웨이퍼 처리 방식(단일 웨이퍼 클러스터, 트윈·다중 스테이션, 미니 배치, 대형 배치, 공간 분할)의 두 축으로 정리된다. 두 축은 독립이어서 같은 ALD SiO₂·SiN도 여러 처리 방식으로 만든다.
  2. 공정에 맞는 장비는 온도 한계 → 구조(덮기·메우기) → 막질 → 두께와 물량 → 라인 사정의 순서로 거른다. 예를 들어 Al 배선 위는 450 °C 아래라 PECVD를, HKMG 뒤의 스페이서는 낮은 온도의 ALD를 쓴다.
  3. 해외 장비사로 Applied Materials(Producer·Centura·Olympia), ASM(Pulsar·EmerALD·XP8·SONORA), Kokusai Electric(TSURUGI·AdvancedAce·QUIXACE), Lam Research(VECTOR·Striker·ALTUS·SPEED), TEL(TELINDY·EVAROS·TELFORMULA·NT333)이 있다. Lam의 10-K는 증착의 주 경쟁사로 Applied를, ALD·PECVD에서 ASM과 Wonik IPS를 든다. ASM의 단일 웨이퍼 ALD 점유율 55% 이상은 회사 자체 추정이다.
  4. 국내 장비사로 원익IPS(GEMINI CVD·ALD, QUANTA, HYETA, NOA, WIDAS), 주성엔지니어링(SDP System, Guidance Series, Eureka), 유진테크(BlueJay, Harrier-L·M)가 있다. 페이지의 수치는 회사 설명이고 조건이 붙어 있다.
  5. 배치는 고정 시간을 많은 웨이퍼에 나눠 웨이퍼당 장비 시간을 줄이지만 한 번 도는 시간이 길다(A412: 25장은 가장 짧은 사이클 타임, 150장은 가장 낮은 비용). 느린 ALD는 배치, 공간 분할, 작은 반응기의 다중 챔버로 처리량을 얻고, 막이 두꺼울수록 고정 시간을 나누는 배치가 유리해진다.
  6. 여러 챔버를 쓰면 챔버마다 결과가 달라 챔버별 SPC와 R2R 보정이 필요하고, 정비 뒤에는 결과가 계단처럼 바뀐다. 공유 손잡이로는 챔버 사이 차이를 없앨 수 없으므로, 장비 구조가 어떤 손잡이를 챔버별로 주는지가 매칭의 한계를 정한다.

확인 퀴즈

1. Applied Materials의 Producer(Twin Chamber), Lam Research의 VECTOR(QSM), ASM의 XP8(DCM)에 공통인 웨이퍼 처리 방식은?

Producer는 Twin Chamber로 한 번에 최대 6장, VECTOR는 받침대 네 개의 쿼드 스테이션 모듈, XP8은 두 챔버를 묶은 DCM 네 개로 챔버 8개를 쓴다. 웨이퍼마다 자기 자리가 있지만 압력이나 기체 유량 같은 조건을 함께 쓰므로 스테이션끼리 결과를 맞추는 일이 따라온다. 두 축 · 챔버 매칭

2. ASM은 A412 퍼니스가 25장부터 150장까지 실을 수 있다고 적었다. 두 끝을 바르게 짝지은 것은?

고정 시간을 많은 웨이퍼에 나누면 웨이퍼당 장비 시간, 곧 비용이 줄어든다. 대신 싣고 내리는 시간이 장수에 비례해 늘어 한 번 도는 시간이 길어진다. 배치 크기 시뮬레이터

3. ASM의 2025 연차 보고서에 나오는 '55% 넘는 점유율'을 바르게 읽은 것은?

ASM은 단일 웨이퍼 ALD에서 55% 넘는 점유율로 선두라고 하면서 그것이 ASM 추정임을 밝힌다. 시장의 범위(단일 웨이퍼 ALD)와 '자체 추정'이라는 꼬리표를 함께 읽어야 한다. Lam의 10-K는 경쟁사 이름만 들고 점유율은 적지 않는다. 해외 장비사

4. 공간 분할 ALD가 처리량을 높이는 방법은?

공간 분할 ALD는 반쪽 반응을 퍼지 대신 공간으로 나눈다. TEL NT333에서는 받침이 한 바퀴 돌면 ALD 한 사이클이 되고, Applied는 Olympia가 화학 단계마다의 펌프·퍼지를 없앴다고 설명한다. 반응기 부피를 줄이는 것은 단일 웨이퍼 ALD의 방법이다. 둘째 축 · ALD 처리량 PREDICT

5. PECVD 챔버 세 대에서 같은 레시피로 쌓은 막의 평균 두께가 챔버마다 다르게 나왔다. 공개 연구와 특허가 보여 준 대응으로 가장 알맞은 것은?

Infineon 연구는 챔버별로 모델을 만들고 SPC도 챔버별로 했다. Applied 특허의 두 스테이션 예에서는 제어로 약 15쌍 뒤 20 Å 안으로 모았다. 공유 손잡이 하나로는 평균만 맞출 뿐 챔버 사이 차이는 남고, 정비 뒤에는 조건이 계단처럼 바뀌어 기준을 다시 잡아야 한다. 챔버 매칭 · 매칭 시뮬레이터